
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() ![]() ![]() ![]() ![]() |
![]() ![]() ![]() |
![]() ![]() ![]() |
Здравствуйте Гость ( Вход | Регистрация ) | Выслать повторно письмо для активации |
![]() ![]() ![]() |
VAL |
Дата 9.04.2014 09:27
|
Offline![]() Мэтр, проФАН любви... proFAN of love ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() Профиль Группа: Администраторы Сообщений: 38049 Пользователь №: 1 Регистрация: 6.03.2004 ![]() |
The Impact of Dennard's Scaling Theory (IEEE SSCS, 2007, Vol. 12, No 1)
Источники: - https://sscs.ieee.org/images/files/newslett...tter_200801.pdf (2008) - https://www.yumpu.com/en/document/view/9525...ing-theory-ieee - http://sindhu.ece.iisc.ernet.in/nano/media...sue_Dennard.pdf A 30 Year Retrospective on Dennard’s MOSFET Scaling Paper -------------------- |
VAL |
Дата 27.04.2019 21:05
|
Offline![]() Мэтр, проФАН любви... proFAN of love ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() Профиль Группа: Администраторы Сообщений: 38049 Пользователь №: 1 Регистрация: 6.03.2004 ![]() |
:doh:
-------------------- |
![]() |
![]() ![]() ![]() |